X熒光光譜儀在實際操作中的常見問題相應(yīng)解決方法分享
2025-04-21
X熒光光譜儀是一種基于X射線熒光效應(yīng)的分析儀器，用于快速、無損地檢測樣品中的元素成分與含量。其工作原理是利用X射線管產(chǎn)生的高能X射線激發(fā)樣品，使樣品中元素的原子內(nèi)層電子躍遷，外層電子填補空穴時釋放出特征X射線熒光。X熒光光譜儀在實際操作中用戶可能會遇到一些問題，以下是常見問題相應(yīng)...
-
哪些因素會影響測金儀的試驗結(jié)果
測金儀的檢測對象：黃金、鉑金、鈀金、K金、K白金，合金，電鍍液等。應(yīng)用行業(yè)：貴金屬及合金的成分分析。黃金K值快速鑒定（4k-24K）。千足金萬足金快速區(qū)分。黃金珠寶，鐘表和硬幣的真?zhèn)螠y試。牙科合金分析。鍍層厚度分析。電鍍液金屬元素含量分析。測金儀的優(yōu)勢：1.微光斑（1mm，0.5mm），1mm樣品檢測面積。利用我們的集成攝像頭和小點功能，來捕獲圖像并專注于小區(qū)域檢測。2.垂直光路設(shè)計，提高復(fù)雜樣品檢測精度。3.多準(zhǔn)直器可選（0.5mm，1mm，2mm）。4.FP（基本參數(shù)法）...
-
X熒光測硫儀測量時要注意樣品臺板的位置
X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征X光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的測試強度。用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關(guān)系，也就是標(biāo)定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標(biāo)定曲線...
-
正確處理真空型礦產(chǎn)元素分析儀故障是確保正常運行的關(guān)鍵
真空型礦產(chǎn)元素分析儀具有超高的靈敏度和重現(xiàn)性，能夠分析從硫到鈾的廣泛元素范圍，并覆蓋1ppm至99.99%的廣泛含量。其操作簡便，界面友好，適用于各種礦產(chǎn)資源的快速分析和評估，為地質(zhì)勘探、礦產(chǎn)開發(fā)等領(lǐng)域提供強有力的技術(shù)支持。真空型礦產(chǎn)元素分析儀在使用過程中可能會出現(xiàn)故障，了解并正確處理這些常見問題是確保正常運行的關(guān)鍵。1.真空泵故障：故障表現(xiàn)：真空泵無法建立或維持足夠的真空度。解決方法：首先檢查真空泵是否有異響或異常震動，排除可能的機械問題。然后檢查管路是否漏氣，密封是否良好...
-
XRF土壤分析儀無需每日校準(zhǔn)即可獲得高精度結(jié)果
土壤作為人類賴以生存的關(guān)鍵資源，在人類的生產(chǎn)生活中占據(jù)著至關(guān)重要的位置。土壤無機污染物中以重金屬比較突出，主要是由于重金屬不能為土壤微生物所分解，而易于積累。甚至有的通過食物鏈在人體內(nèi)蓄積，嚴(yán)重危害人體健康。便攜式XRF土壤分析儀實現(xiàn)了快速、準(zhǔn)確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷），Cd（鎘），Hg（汞），Cu（銅），Ni（鎳），Zn（鋅），Cr（鉻）等，能夠?qū)崟r現(xiàn)場對廠區(qū)、礦區(qū)、重工業(yè)區(qū)周邊的環(huán)境進行監(jiān)測，從而進行控制排放和污染治理。操作人員可以直接用Compas...
-
EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀不同的應(yīng)用案例
作為一款立式X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800MMAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時搭配了高計數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。ESI英飛思EDX8800MMAX光譜儀主要應(yīng)用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。應(yīng)用方向：RoHS篩選測試，有害金屬快速篩查。石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析。環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤...
-
X熒光鍍層測厚儀出現(xiàn)故障后及時解決非常重要
X熒光鍍層測厚儀具有測量精度高、穩(wěn)定性好、操作簡便等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于金屬加工、電子、環(huán)境監(jiān)測及質(zhì)檢等行業(yè)。它不僅能快速準(zhǔn)確地確定涂層厚度，還能分析元素的成分和化學(xué)狀態(tài)，為產(chǎn)品質(zhì)量控制和科學(xué)研究提供有力支持。在長期使用過程中，X熒光鍍層測厚儀可能會遇到一些故障。這些故障不僅會影響測量精度，還可能影響工作效率。因此，了解這些故障及其相應(yīng)的解決方法至關(guān)重要。1、測量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。這可能是由于儀器校準(zhǔn)不當(dāng)或傳感器老化導(dǎo)致的。針對這類故障，我們可以首先嘗試重新校準(zhǔn)儀器，確保校準(zhǔn)參數(shù)正確無...
-
快速熔片法樣品制備步驟
EDX8800MMAX光譜儀應(yīng)用方向：RoHS篩選測試，有害金屬快速篩查石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，包裝材料科研，高校，材料研發(fā)快速熔片法樣品制備步驟：研磨制樣-稱樣-預(yù)氧化-加入熔樣試劑-熔片機熔片-冷卻-上機測試。英飛思軟件內(nèi)核-軟件核心算法包括FP基本參數(shù)法，Sherman方程EC經(jīng)驗系數(shù)法，阿爾法α理論參數(shù)法。依托...
歡迎來到蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司網(wǎng)站！
聯(lián)系人：張經(jīng)理
地址：江蘇省蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2幢407
郵箱：sales@esi-xrf.com
掃一掃
傳真：